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CBCT 質(zhì)量控制檢測模體 DSR500

更新時(shí)間: 2024-11-20

訪問次數(shù): 917

產(chǎn)品報(bào)價(jià):

產(chǎn)品特點(diǎn): CBCT 設(shè)備性能模體是專門設(shè)計(jì)用于 CBCT、牙科 X 線斷層攝影和 3D 成像設(shè)備全程的 QA/QC 測試工具的, 應(yīng)用范圍包括 3D 成像設(shè)備和 C 形臂 X 射線機(jī)等設(shè)備, 該模體也可用于標(biāo)準(zhǔn)的 CT IQ 測試 。

CBCT 質(zhì)量控制檢測模體 DSR500的詳細(xì)資料:

CBCT 設(shè)備性能模體是專門設(shè)計(jì)用于 CBCT、牙科 X 線斷層攝影和 3D 成像設(shè)備全程的 QA/QC 測試工具的, 應(yīng)用范圍包括 3D 成像設(shè)備和 C 形臂 X 射線機(jī)等設(shè)備,  該模體也可用于標(biāo)準(zhǔn)的 CT IQ 測試 。符合標(biāo)準(zhǔn):     WS818-2023《錐形束 X 射線計(jì)算機(jī)體層成像(CBCT)設(shè)備質(zhì)量控制檢測標(biāo)準(zhǔn)》  附錄 G。

技術(shù)參數(shù)

模體主體,   由直徑為  20cm  的聚氨酯軟膠圓柱體組成,  高度  200mm  里面包含三組模塊,  一個(gè)木箱為固 掛座,  模體主體掛在木箱邊緣打好平水進(jìn)行掃描檢測。

組模塊

A  高對比度分辨力模塊

在主模外殼內(nèi)第 2 層直徑 150mm  40MM  由純鋁組成的高分辯率測試卡 線對/ 厘米高分辨率 線對    21 線/厘米高分辨率線對卡可用于分辨率檢測,它的分辨率量程從 1 個(gè)線對/厘米到 21 個(gè)線對/厘米。   21 線對檢測中,   卡的精度是+0.5 線對,   更低的線對檢測中的精度更準(zhǔn)確。

B 低對比度分辨力模

1.  主體材料  (固體水)  直徑 150mm  40MM 檢測 1.0%對比度模塊在主模體外殼內(nèi)第三層

2. 模塊中的低對比靶塊的尺寸和對比度如下: 外圈靶塊尺寸  內(nèi)圈靶塊尺

2.0mm

3.0mm

4.0mm

5.0mm

6.0mm

7.0mm

8.0mm

9.0mm

15.0mm

給定了靶塊對比度的值,  在檢測對比度性能前,  需要重新確定靶塊的實(shí)際對比度 。測量感興趣區(qū)得到 實(shí)際的對比度  然后測量鄰近的本底區(qū)域 。對幾個(gè)掃描區(qū)的測量值取平均值,   去確定靶塊的實(shí)際對比度  同時(shí)測量鄰近背景區(qū)域?qū)Π袇^(qū)的測量也是很重要的,   因?yàn)?/span>“杯狀"和“帽狀"效應(yīng)可導(dǎo)致各掃描區(qū)域之間的  CT 值不同。感興趣區(qū)不要太靠近邊緣。感興趣區(qū)的直徑至少要有 4 ×4 個(gè)像素。因?yàn)榈蛯Ρ榷葴y量存在“噪音",

所以應(yīng)取多個(gè)掃描區(qū)域測量值的平均值 注意  mAs  的設(shè)置,   因?yàn)殡S著 X 線曝光量的增加,   光子量也將 增加 利用在各種噪聲水平下視覺能分辨的靶區(qū)尺寸來評估對比度細(xì)節(jié)曲線上的信息 。在每組對比度里所 有靶的對比度都是來自同樣單一 的混合物,  那樣能確保所有靶區(qū)的對比度是相同的 。下面的等式可來將 測量對比度和尺寸轉(zhuǎn)換為其它規(guī)格的對比度和尺寸  (測量對比度)  *  (視覺能分辨出的z 小靶直徑)  =常數(shù)

C 圖像均勻性模塊

1.  主體材料  (固體水)  直徑 150mm    90MM

2.  圖均勻性模塊是一個(gè)均勻材質(zhì)的模塊 。這種物質(zhì)的 CT 值在標(biāo)準(zhǔn)掃描方案中,   與水的密度的偏差在  1%  ( 20H)  內(nèi) 。典型的  CT 報(bào)告值從 5 H  到  18 H 。這個(gè)模塊用來測量空間均勻性,   CT 平均值和噪聲 。  CT 系統(tǒng)的精度由興趣區(qū)  ( ROI)  內(nèi)的 CT  平均值和相應(yīng)的 CT 值標(biāo)準(zhǔn)偏差來衡量 。這些測量取自掃描區(qū) 內(nèi)不同地方 。設(shè)定同樣大小的  ROI  區(qū),  別測量均勻圖象中心和周圍上 、下 、左 、右四個(gè)方向上給定的 興趣區(qū)  ( ROI)  內(nèi)的大量點(diǎn)  (比如  1000)  的 CT 平均值和  CT 值標(biāo)準(zhǔn)偏差 。觀察以前圖像的數(shù)據(jù)變化和 相關(guān)鄰近區(qū)域的數(shù)據(jù)變化通過掃描均勻性模塊可測量空間均勻性 。觀察上圖顯示像素的一排或幾排 CT  值剖面輪廓平均值上下的趨勢走向 。選擇一條從模塊一側(cè)到另一側(cè)的剖面曲線  由于  CT 機(jī)的邊緣效應(yīng), 具有代表性的曲線將是從模塊  2cm 處開始 。通過測量曲線上的  CT 最大值和  CT 最小值,  使用下面的方 可得系統(tǒng)的整體均勻性:  CT 值的“杯狀"或“帽狀"現(xiàn)象表明系統(tǒng)需要進(jìn)行重新標(biāo)定。


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